Fel gwneuthurwr sydd wedi'i wreiddio'n ddwfn yn y diwydiant LCD, rydym yn deall pwysigrwydd ansawdd arddangos i brofiad cwsmeriaid. Wrth gynhyrchu a defnyddio arddangosfeydd TFT-LCD, mae "swigod crisial hylifol" neu "smotiau du" yn ffenomenau annymunol y gellir dod ar eu traws. Heddiw, byddaf yn rhannu fy mhrofiad yn y gobaith o'ch helpu chi i adnabod, dadansoddi ac atal problemau o'r fath yn well.
Pam mae smotiau duon ar TFT{0}}LCDs yn fwy amlwg mewn delweddau graddlwyd?
Er mwyn deall achosion smotiau du, rhaid i ni yn gyntaf adolygu mecanwaith arddangos TFT{0}}LCDs. Yn syml, pan fydd pŵer yn cael ei gymhwyso, cynhyrchir gwahaniaeth foltedd rhwng yr electrod picsel (Pixel ITO) a'r electrod cyffredin (COM ITO), gan yrru'r moleciwlau crisial hylif i wyro. Mae maint y foltedd yn pennu'r ongl gwyro, gan effeithio ar drosglwyddiad golau ac yn y pen draw ffurfio delwedd du, llwyd neu wyn.
Gan edrych ar y gromlin trawsyrru foltedd (V-T), nid yw'r gromlin hon yn-llinol. Yn y rhanbarth foltedd isel (sy'n cyfateb i raddfa lwyd isel), mae llethr y gromlin yn amlwg. Mae amrywiadau foltedd bach yn cael eu chwyddo i wahaniaethau trawsyrru sylweddol. Mae hyn yn esbonio pam mae smotiau du yn ymddangos yn fwy difrifol ar lefelau graddlwyd (fel L127 neu L64)-mân unffurfiaethau nad ydynt yn-yn cael eu chwyddo yma.
Yn ogystal, mae nodweddion gweledigaeth ddynol hefyd yn chwarae rhan. Yn ôl cyfraith Weber-Fechner, mae sensitifrwydd y llygad dynol i newidiadau mewn disgleirdeb mewn cyfrannedd union â disgleirdeb y cefndir. O dan sgrin gwyn llachar, mae angen gwahaniaeth disgleirdeb mawr i ganfod diffygion; tra o dan raddfa lwyd tywyllach, mae gwahaniaethau bach hyd yn oed yn amlwg iawn. Dyma pam mae llawer o ddiffygion LCD (fel murmuriaid befel, fflachio, neu ysbrydion) yn aml yn cael eu harchwilio o dan raddfa lwyd. Trwy'r egwyddorion hyn, gallwn ddiagnosio problemau yn fwy cywir ac osgoi oedi cyn cynhyrchu.
Saith dull ar gyfer monitro a chyffroi smotiau du yn TFT-LCD
Weithiau mae smotiau du mewn paneli LCD yn pylu neu'n diflannu dros amser, gan wneud dadansoddiad dilynol yn anodd. Mewn achosion o'r fath, gall dulliau monitro asesu'r risgiau posibl o baneli rhydd o ddiffygion, tra gall dulliau cyffroi helpu i atgynhyrchu'r broblem a chadarnhau a yw'n deillio o fethiant y seliwr ffrâm. Sylwch fod smotiau du yn wahanol i fathau eraill o swigod (fel swigod aer neu swigod gwactod), sy'n aml yn gysylltiedig ag awyru neu gyfaint grisial hylif. Isod mae saith dull yr ydym wedi'u crynhoi, pob un wedi'i deilwra i senario cais penodol.
Profi Amgylchedd Tymheredd Uchel
Gall tymereddau uchel (80-85 gradd) gynyddu maint smotiau du yn effeithiol. Os yw'r seliwr yn wael, bydd tymheredd uchel yn achosi swigod aer mewnol i ehangu, gan gywasgu'r ardal grisial hylif ac arwain at ehangu'r smotiau du. Ar yr un pryd, mae gludedd y grisial hylif yn lleihau, gan ganiatáu i halogion (fel lleithder) wasgaru'n gyflymach, gan waethygu'r ardal halogi. Argymhellir defnyddio siambr brawf tymheredd uchel i sicrhau gwresogi unffurf; os yw amodau'n gyfyngedig, gellir defnyddio plât poeth yn lle, ond bydd yr unffurfiaeth ychydig yn israddol.
Mecanwaith Craidd: Mae tymheredd uchel yn hyrwyddo ehangiad swigen aer ac yn cyflymu trylediad halogion, gan helpu i wirio materion selio yn gyflym.
Profi Amgylchedd Tymheredd Uchel a Lleithder Uchel
O dan amodau o 80-85 gradd a 90-95% RH, mae'r smotiau du yn gwaethygu. Mae lleithder cynyddol yn caniatáu i fwy o leithder dreiddio i seliwr sydd wedi'i selio'n wael, gan achosi swigod aer i ehangu a chynyddu ardal y smotyn du. Mae hyn yn fwy difrifol na thymheredd uchel yn unig, gan ei gwneud yn addas ar gyfer cyflymu atgenhedlu.
Mecanwaith Craidd: Cyfuno pwysau deuol gwres a lleithder i efelychu amgylcheddau defnydd eithafol.
Prawf popty pwysau berwi neu PCT
Yn debyg i dymheredd uchel a lleithder uchel, ond gydag amodau mwy eithafol (fel coginio dan bwysau uchel), mae hyn yn byrhau'r amser actifadu, gan achosi i'r màs du chwyddo'n gyflym. Mae'r mecanwaith yn debyg i'r cyntaf, ond yn fwy effeithlon, gan ei gwneud yn addas ar gyfer dadansoddi diffygion brys.
Yn ymarferol, rydym wedi canfod y gall profion PCT leihau'r amser amlygiad i broblem o ddyddiau i oriau, gan wella effeithlonrwydd diagnostig yn fawr.
Prawf gwactod inc coch
Ar ôl prawf gwactod, bydd yr inc coch mewn smotiau du LCD diffygiol yn treiddio i mewn i'r gell LCD. Pan fydd y seliwr o amgylch y gell LCD yn dirywio, bydd yr inc coch yn treiddio i'r gell, a bydd y smotiau du hefyd yn cynyddu mewn maint.
Arsylwi Tyllau Selio yn Ficrosgopig
Pan nad ydych yn siŵr a yw'r diffyg patsh du LCD yn cael ei achosi gan broblem selio gyda'r seliwr LCD, gellir defnyddio microsgop i arsylwi a oes tyllau yn y seliwr.
Os caiff y seliwr ei dyllu gan y grisial hylif, yn gyffredinol gellir priodoli'r diffyg darn du LCD i broblem selio gyda'r seliwr LCD.
Dylid nodi nad oes modd osgoi tyllau selio yn y broses ODF; dim ond trwy optimeiddio'r broses weithgynhyrchu panel arddangos LCD y gellir lleihau lled y tyllau.
Generally, if the width of the puncture is ≤1/3 of the sealant width, it can be considered OK; if the width of the puncture is >1/3 o led y seliwr, fe'i hystyrir yn NG (Ddim yn Dderbyniol).
Selio LCD Pilio Off Prawf
Gall niwed i'r seliwr LCD, dewis seliwr amhriodol, neu gydweddu'r seliwr yn amhriodol â'r ffilm aliniad DP a'r grisial hylif oll arwain at lai o gryfder croen rhwng gwydr TFT a gwydr CF y panel LCD. Y canlyniad terfynol yw bod y seliwr LCD yn methu'r prawf pilio.
Yn gyffredinol, mae safon y diwydiant ar gyfer profi plicio seliwr LCD yn Fwy na neu'n hafal i 10 kgf, gyda gofynion llymach yn Fwy na neu'n hafal i 15 kgf. Yn nodweddiadol, defnyddir pum pwynt prawf ar gyfer y prawf plicio.
-Profi Amgylchedd Tymheredd Isel
Mewn cyferbyniad â thymheredd uchel, mae tymheredd isel (-20 ~-40 gradd) yn achosi i'r clytiau du grebachu. Mae swigod yn cyfangu, mae gludedd crisial hylifol yn cynyddu, ac mae trylediad halogion yn arafu. Ar ôl cael eu tynnu o'r amgylchedd tymheredd uchel, mae'r darnau du yn pylu'n raddol wrth i'r tymheredd ddychwelyd i dymheredd yr ystafell. Mae'r prawf hwn yn darparu gwiriad gwrthdro o faterion selio, gan helpu i wahaniaethu rhwng diffygion dros dro a pharhaol.
Mecanwaith Craidd: Defnyddio'r egwyddor o ehangu thermol a chrebachu i arsylwi newidiadau deinamig.
Nid yw'r dulliau hyn yn ynysig a gellir eu cyfuno, megis ysgogi yn gyntaf ar dymheredd uchel ac yna arsylwi ar dymheredd isel, i gael data cynhwysfawr.
Casgliad
Fel gwneuthurwr arddangos masnachol proffesiynol, rydym wedi ymrwymo i wella dibynadwyedd cynnyrch a chysondeb arddangos. Gobeithiwn y bydd yr erthygl hon yn darparu cyfeiriad gwerthfawr ar gyfer eich dewis, defnydd, a chynnal a chadw TFT-LCDs.
Am gwestiynau pellach neu anghenion wedi'u haddasu, mae croeso i chi gysylltu â ni.
